EDS Fair 2011 ― 出展者セミナー 講演資料

多様な設計課題に挑戦するSTARC

「先端LSIテストの課題への挑戦-STARCAD-Clouseau-」

相京 隆 (開発第2部 テスト&故障解析開発室 室長)
畠山 一実 (開発第2部 テスト&故障解析開発室 チームリーダー) / 講演資料

「次世代MixedSignal設計フロー構築」

白川 達也 (開発第2部 MixedSignal開発室 主任研究員) / 講演資料

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