| 主な発表論文 |
| H14年度 |
| (1) 国内学会発表論文 |
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吉田泰一、渡邉敬輔、濱田英幸、村岡道明、“システムレベル設計における同期動作の記述性評価”、DAシンポジウム2002（2002年7月）. |
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岡田 知博、武井 勉、伊藤 真紀子、多田 敏彦、村岡 道明、“命令拡張を考慮したプロセッサのRTL記述生成手法”、DAシンポジウム2002（2002年7月）. |
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細川利典、伊達博、宮崎政英、村岡道明、“テストコントローラ面積制約条件下でのRTLデータパスのテスト長最短化のためのテストプラングループ化方法”、第48回FTC研究会. |
| (2) 国際学会発表論文 |
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Michiaki Muraoka, Hideyuki Hamada, Hiroaki Nishi, Toshihiko Tada, Yoichi Onishi, Toshinori Hosokawa, Kenji Yoshida, “VCore-based Design Methodology”, Proc. of IEEE/ACM Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC'03), pp.441-445, Jan. 2003. |
| ・ |
H. Nishi, M. Muraoka, R. K. Morizawa, H. Yokota, H. Hamada, “Synthesis for SoC Architecture Using VCores”, Proc. of IEEE/ACM Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC'03), pp.446-452, Jan. 2003. |
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Yoichi Onishi, Michiaki Muraoka, Makoto Utsuki, Naoyuki Tsubaki, “VCore-based Platform for SoC Design”, Proc. of IEEE/ACM Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC'03), pp.453-458, Jan. 2003. |
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R. K. Morizawa, K. Tanaka, K. Watanabe, Y. Kaitsu, S. Hanamura, T. Shinsha, M. Muraoka,“VCDS Tool Demonstration,” Proc. of IEEE/ACM Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC'03), p.459, Jan. 2003. |
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Toshinori Hosokawa, Hiroshi Date, Michiaki Muraoka, “A State Reduction Method for Non-Scan Based FSM Testing with Don't Care Inputs Identification Technique”, The 11th Asian Test Symposium, pp.55-60. |
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Hiroshi Date, Toshinori Hosokawa, Michiaki Muraoka, “A SoC Test Strategy Based on a Non-Scan DFT Method”, The 11th Asian Test Symposium, pp.305-310. |
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Toshinori Hosokawa, Hiroshi Date, Masahide Miyazaki, Michiaki Muraoka, “A Test Plan Grouping Method to Reduce Test Length and Test Controller Area for RTL Data Paths”, The 3rd Workshop on RTL and High Level Testing, pp.100-105. |
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Hiroshi Date, Toshinori Hosokawa, Masahide Miyazaki, Michiaki Muraoka, “A Non-scan DFT Method for RTL Data Path Circuits with Various Bit Width”, The 3rd Workshop on RTL and High Level Testing, pp.32-37. |
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Toshinori Hosokawa, Hiroshi Date, and Michiaki Muraoka, “A Test State Reduction Method for FSMs with Non-Scan DFT Using Don't Care Inputs Identification Technique”, 情報処理学会論文誌2003年5月. |
| (3) 講演、チュートリアル、フォーラム等 |
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村岡道明、“VCDS開発状況報告”、SoC設計技術フォーラム2002 （2002年6月） |
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多田敏彦、“Vコアインターフェース合成技術”、SoC設計技術フォーラム2002 （2002年6月） |
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大西洋一、“Vコアデータベース技術”、SoC設計技術フォーラム2002 （2002年6月） |
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新舎隆夫、“VCDSプロトタイプのデモンストレーション”、SoC設計技術フォーラム2002 （2002年6月） |
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| H13年度 |
| (1) 国内学会発表論文 |
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細川利典、伊達博、村岡道明、“RTLデータパス回路のための圧縮テストプラン表を
用いたテスト生成方法”、FTC研究会 |
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伊達博、細川利典、村岡道明、“動作記述における演算情報を利用した非スキャンテスト容易化設計手法”、FTC研究会 |
| ・ |
T.Hosokawa, H.Date, and M.Muraoka, “Two Test Generation Methods using a compacted test table and a compacted test plan table for RTL Data Path Circuits,” IEICE Transactions on Information and Systems |
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村岡道明、“次世代SoCのシステムレベル設計”、DAシンポジウム2001、2001年7月. |
| (2) 国際学会発表論文 |
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T.Hosokawa, H.Date, and M.Muraoka,”A Compacted Test Plan Table Generation Method for RTL Data Path Circuits,”Proc. of IEEE 2001 Workshop on RTL ATPG &DFT(WRTLT'01), pp.162-170, Nov 2001. |
| ・ |
H.Date, T.Hosokawa, and M.Muraoka,”A Non Scan DFT Method Using Functional Information
of Operational Modues,”Proc. of IEEE 2001 Workshop on RTL ATPG &
DFT(WRTLT'01), pp.105-108, Nov 2001. |
| ・ |
T.Hosokawa, H.Date, and M.Muraoka, “A Test Generation Method using a compacted
test table and a test generation method using a compacted test plan table
for RTL Data Path Circuits,”20th IEEE VLSI Test Symposium (VTS01) |
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WRTLT’01, M. Muraoka, “VCore Based Design Technology for the Next Generation
SOC”, November 2001. |
| (3) 講演、チュートリアル、フォーラム等 |
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村岡道明他、“システムオンチップ先端設計技術フォーラム2001”、2001年6月. |
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| H12年度 |
| (1) 国内学会発表論文 |
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村岡道明, “21世紀のSoC産業を創出する次世代設計技術”，デザインガイア2000基調講演、2000年11月. |
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村岡道明、“VCore技術とVCDSプロジェクトの概要”、 RTP2001-実時間処理に関するワークショップ、2001年3月. |
| (2) 講演、チュートリアル、フォーラム等 |
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村岡道明、“VCDSプロジェクトの概要”、2001年電子情報通信学会総合大会 チュートリアル講演｢次世代のシステムオンチップ先端設計技術｣、2001年3月. |
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西宏晃、“アーキテクチャ生成技術”、2001年電子情報通信学会総合大会 チュートリアル講演｢次世代のシステムオンチップ先端設計技術｣、2001年3月. |
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多田敏彦、“ハード／ソフトＶコア生成技術”、2001年電子情報通信学会総合大会 チュートリアル講演｢次世代のシステムオンチップ先端設計技術｣、2001年3月. |
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大西洋一、“Ｖコアデータベース技術”、2001年電子情報通信学会総合大会 チュートリアル講演｢次世代のシステムオンチップ先端設計技術｣、2001年3月. |
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