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Electronic Design and Solution Fair 2007
日 時：2007年1月25日（木）・26日(金) 10：00〜18：00
場 所：パシフィコ横浜
STARCからの出展内容
STARC出展テーマ：
「STARCを中心とした企業間ネットワークでSoC設計技術の世界標準を目指す」
★ 企業間ネットワークで拡大するSTARC設計技術基準
- IP機能検証ガイド
- RTLスタイルガイドとSTARC認定SoC設計技能検定試験
- トランジスタモデルHiSIM2の実用化
- IEEE標準STIL活用ガイド
★ STARCAD-CEL
- 65nm世代最先端システムLSIにおけるプロセスフレンドリー設計へのチャレンジ
★ STARCAD-Clousou
★ STARCAD-SLD
- TLM標準化によるTL設計の普及
- 高位メソドロジ紹介
★ 大学との共同研究、LSI設計教育
★ スターシャトルの実績と進化する設計環境
- 90nm技術によるシリコン検証手段の提供
- 新開発の設計デザインキット
 展示ブースの特長
(1) STARCAD-CELコーナーでの専用セミナー
(2) オープンエリアでのプレゼンテーション
STARC出展者セミナー ――― 講演資料
- 企業間ネットワークで拡大するSTARC設計技術標準
- スターシャトルの実績と進化する設計環境
- 65nm世代最先端システムLSIにおけるプロセスフレンドリー設計へのチャレンジ
- SDQMによる高品質ディレイテストの実現
- TLM標準化の動向
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