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| EDS Fair 2011 ― 出展者セミナー 講演資料 |
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 多様な設計課題に挑戦するSTARC
- 「先端LSIテストの課題への挑戦−STARCAD-Clouseau−」
- 相京 隆 （開発第2部 テスト＆故障解析開発室 室長）
- 畠山 一実 （開発第2部 テスト＆故障解析開発室 チームリーダー） 講演資料
- 「次世代MixedSignal設計フロー構築」
- 白川 達也 （開発第2部 MixedSignal開発室 主任研究員） 講演資料
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